產品型號

TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿

主要特點

1）TEM-APT樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是先進的原子尺度表征手段。

2）三維原子探針的結果不是“可視”的，需要通過數據重構再現。透射電鏡能提供“直接可視”的實驗結果，但是結果是二維投影的，并且很難獲得三維的單個原子尺度的成分信息。基于它們各自的優勢，我們開發了3DAP-TEM樣品桿，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到TEM樣品桿上。

產品結構

產品作用

（1）在TEM中直接觀察APT試樣上是否有令人感興趣的區域，使樣品檢測工作效率增加；

（2）通過大角度傾轉試樣，獲得不同角度試樣的形貌結構特征，為3DAP數據重構提供幫助；

（3）TEM觀察過后的試樣可以直接移到APT中繼續實驗。將APT結果與TEM圖像相結合，有 助于優化重構參數，并使3DAP結果更具有可信度。

（4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結構。

產品性能

（1）接受錐形電化學拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱。

（2）允許360°的圖像采集和層析圖像的重建，不會因楔子缺失而造成信息損失。

（3）樣品可以很容易地從支架上取出，然后直接轉移到APT機上進行進一步表征。

（4）兼容所有幾何形狀的極片間隙。