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Quanta™ 掃描電子顯微鏡
FEI QUANTA™產品系列包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（ESEM™）和兩個DualBeam™系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科學實驗室和生命科學實驗室的成像要求。Quanta系列的掃描電子顯微鏡，是一款多功能，高性能儀器與任何SEM系統的樣本，以適應范圍*廣的三種模式（高真空，低真空和ESEM）。如能譜儀，波長色散X射線光譜儀和電子背散射衍射分析系統，可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡系統。
Quanta™ 掃描電子顯微鏡
? *小化樣品制備的數量，低真空和 ESEM 功能可實現絕緣及/或含水樣品的無荷電成像和分析? 通過 Quanta 的“經由透鏡”**壓差真空技術，可在高真空和低真空條件下對導電和絕緣樣品進行 EDS 和 EBSD 分析，提高分析能力。穩定的高射束電流（高達 2 μA）可實現快速準確的分析? 使用原位樣品臺在 - 165 °C - 1500 °C 環境溫度條件下執行各種自然狀態樣品的動態原位分析? 使用可選的射束減速模式完成表面成像，以獲取導電樣品的表面和成分信息? 易用和直觀性令初學者也能進行高效操作。
Quanta™ 掃描電子顯微鏡
分辨率 | 加速電壓 | 探針電流樣品臺 | 放大率 | 試件室尺寸 | |
Quanta 50 系列 | 高真空 ·3.0 nm/30 kV (SE) ·4.0 nm/30 kV (BSE) ·10.0 nm/3 kV (SE) 低真空 ·3.0 nm/30 kV (SE) ·4.0 nm/30k V (BSE) ·10 nm/3 kV (SE) | 200 V - 30 kV | 高達 2 μA，可持續調節 | 20 - 1000000 x （四象限視圖） | 左右寬 284mm-379mm |
Quanta 50 系列/配 FEG | 高真空 ·0.8 nm/30 kV (STEM)* ·1.0 nm/30 kV (SE) ·2.5 nm/30 kV (BSE) ·3.0 nm/1 kV (SE) 低真空 ·1.4 nm/30 kV (SE) ·2.5 nm/30 kV (BSE) ·3.0 nm/3 kV (SE) | 200 V - 30 kV | 高達 2 μA，可持續調節 | 20 - 1000000 x （四象限視圖） | 284mm-379mm 內徑（從左至右） |
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蘇州市萊頓科學儀器有限公司
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