用 途

•在光學冷加工中用于檢驗球面和非球面的質量

•測定光學零件或光學系統的像差，如球差、像散等

•測定凹球面的曲率半徑

•檢驗光學材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等

•光學系統的檢驗和裝配，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面

技 術 指 標

•相對孔徑：D/F=1：2

•小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm

•狹 縫 寬：0.05，0.15mm

•儀器重量：2KG

•粗調升降：70mm

•微調升降：15mm

•移 動 量：縱向橫向各15mm

•讀 書 值：0.01mm