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臺式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES）
美國easyXAFS公司**推出臺式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES），采用獨(dú)有的X射線單色器設(shè)計，無需同步輻射光源，在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以極高的靈敏度和光源質(zhì)量，廣泛應(yīng)用在催化、電池等研究領(lǐng)域，實現(xiàn)對元素的測定、定量和價態(tài)分析等。
XAFS300 | XES100 |
easyXAFS產(chǎn)品參數(shù)
X射線源: XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W) 能量范圍: 5-12keV; 可達(dá)19keV 分辨率: 0.5-1.5eV 樣品塔: 7位自動樣品輪 布拉格角: 55-85 deg | 檢測器: SDD 單晶尺寸: 球面單晶(Si/Ge) 直徑10cm，曲率半徑100cm 軟件: LabVIEW， 腳本掃描 擴(kuò)展: 儀器可外接設(shè)備，控制樣品條件 分析儀校準(zhǔn): 預(yù)先校準(zhǔn)，快速插拔更換 |
easyXAFS 產(chǎn)品優(yōu)勢
- 無需同步輻射光源
- 科研級別譜圖效果
- 臺式設(shè)計，實驗室內(nèi)使用
- 可外接儀器設(shè)備，控制樣品條件
- 可實現(xiàn)多個樣品或多種條件測試
- 操作便捷、維護(hù)成本低
easyXAFS 應(yīng)用案例譜圖展示
1、XAFS300
2、XES100
■ XES Mode
■ XAFS Mode
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1. Jahrman， Seidler， et al.， J. Electrochem. Soc. 2019.
2. Jahrman， Holden， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2019.
3. Bès， Ahopelto， et al.， J. Nucl. Mater. 2018.
4. Mundy， Cossairt， et al.，Chem Mater 2018
5. Jahrman， Seidler， and Sieber， Anal. Chem.， 2018
6. Holden， Seidler， et al.， J. Phys. Chem. A， 2018.
7. Stein， Holden， et al.， Chem. Mater.， 2018.
8. Padamati， Angelone， et al.， JACS， 2017
9. Mortensen， Seidler， et al.， Phys Rev B， 2017.
10. Valenza， Jahrman， et al.， Phys Rev A， 2017
11. Mortensen， Seidler， et al.， XAFS16 conference proceedings.
12. Seidler， Mortensen， et al.， XAFS16 conference proceedings.
13. Seidler， Mortensen， et al.， Rev. Sci. Instrum. 2014.
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