CT-COMPACT nano超高分辨率可到達亞微米級，強大的功能性可以提供原位/4D 解決方案。與傳統的層析成像相比，CT-COMPACT nano納米分辨率不受樣本大小的限制，實現0.4μm的超高分辨率，適用于材料科學、半導體、石油、天然氣、生命科學等領域。

CT-COMPACT nano是以復雜并且容易改變的目標來運作。無匹配的系統架構與典型的ProCon X-Ray設計相結合，為您提供了一個方便、高效的系統。通過亞微米分辨率和**的對比度實現高品質的掃描結果。

特征

·操作簡便

·非接觸式計量

·興趣量 - 掃描

·質量控制獨立于材料

·缺陷識別（空洞，裂縫......）

·不同的重建算法過濾反投影，代數，統計

·多個掃描軌跡Circular，Helix，Planar等等

·許多掃描軌跡的視野擴展

·體積縮放（Hounsfield）

·環形偽像抑制和降噪算法

·光束硬化校正和金屬偽影減少

·用于漂移補償的抖動校正

·相位和暗場對比度選項

·用于編寫腳本的Matlab / Python / Labview界面

·批處理和掃描計劃

·時間分辨CT掃描（4D CT）

·原位選項

·實時CT重建

·使用Flat- panel探測器快速掃描<10秒

·“Industriepreis 2018” - 獲獎者