電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱是一樣的意思，針對(duì)的是同一類(lèi)同一標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱，此類(lèi)試驗(yàn)箱是提供給電子器件在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱不僅適合電子器件使用，還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)必備的試驗(yàn)設(shè)備，結(jié)構(gòu)分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。