透射電子顯微鏡

Themis Z材料科學

**的光學性能，可重復性和靈活性。

為了使科學家加深對復雜材料的理解并開發創新的新材料，他們必須能夠關聯形狀和功能，在空間，時間和頻率上進行解析并使用堅固，精確的儀器進行研究。

賽默飛世爾科技（Thermo Fisher Scientific）推出Themis Z –下一代超高分辨率，像差校正，掃描透射電子顯微鏡，可提供****的光學性能和靈活性，并具有****的可重復性。

光學性能的**

在經過Thermo Scientific™驗證的經過 C_S校正，穩定的Themis設計的基礎上，Themis-Z在30至300千伏的整個加速電壓范圍內，在高分辨率TEM和STEM中均提供了****的原子分辨率成像能力。

STEM性能

Themis Z具有300 kV的寬間隙S-TWIN極靴，其低至<63 pm的STEM分辨率令人印象深刻。圖像顯示以300 kV成像的GaN [211]和以60 kV成像的Si [110]。GaN [211]和Si [110]的相應FFT清楚地顯示了63和136 pm的啞鈴分辨率。

S-CORR STEM性能原子的分辨率成像

重現性

這種功能不僅是*前沿的，而且還可以廣泛使用。

OptiSTEM +

Themis Z通過OptiSTEM +在STEM實驗中實現了探針成形光學器件的自動調諧。這不僅使顯微鏡專家而且所有材料科學家都可以觸及極高的空間分辨率和較高的實驗重現性。

OptiMONO

帶有OptiMono的ThemisZ繼續以自動化為主題，它可以自動對準并優化單色儀光學器件，從而以**的實驗精度和可重復性再次提供*終的能量分辨率。結果是可以使用超高分辨率電子能量損失光譜學實驗，該實驗為所有材料科學家提供了原子分辨率下的有價值的化學鍵合信息。

靈活性

為了加深我們對復雜納米材料的理解，需要一種能夠提供*終性能的工具，而無論標本或研究方向要求的成像或光譜模式如何。用于測量原子級特性的工具應保證可重復性，準確性和精確性，而絕不妥協。創新需要不受技術限制的自由探索和研究。

ThemisZ提供了做到這一點的靈活性。

Themis Z的成像靈活性

對敏感材料的敲擊損壞

劑量敏感材料

低原子序數（Z）的材料

多層MoS ₂ 用S-CORR在30kV下成像

用iDPC在200 kV處成像六面銅酞菁銅。

GaN [211]用iDPC以63 pm的分辨率在300 kV下成像（插圖顯示HAADF圖像）。Ga和N啞鈴清晰可見。使用iDPC成像可以同時觀察輕元素和重元素。

成像磁性材料

使用電子顯微鏡像素陣列檢測器（EMPAD）在鐵氧體中用DPC繪制場強和方向。樣品提供：大阪府立大學中島H.和森S.森。

選擇Super X或Dual X EDS檢測器

Thermo Scientific EDS檢測器產品組合可為客戶提供各種檢測器幾何形狀選擇，以滿足他們的實驗要求并優化其EDS結果。

現在，借助Thermo Scientific Velox™分析軟件，可以對兩種探測器的幾何形狀進行快速，準確的定量。

能量分辨率適合所有EELS應用

自動進稿器

BaTiO3 / SrTiO3界面的鐵損EELS原子分辨率元素圖。藍色為Ba，紅色為Sr，綠色為Ti。使用1 eV FWHM電子探針在80 kV（60 pA）下成像（49x49像素<90秒）。

在該示例中，對金納米線面積的測量顯示了沿著納米線的等離激元激發的局部位置隨其激發能在0.18 eV至1.2 eV范圍內的變化。這些實驗需要具有<0.2 eV FWHM的單色電子探針。

使用FWHM <30 meV的單色電子探針在60 kV的MgO晶體中繪制表面聲子模式。 樣品和分析，由麥克馬斯特大學加拿大電子顯微鏡中心Isobel Bicket和Gianluigi Botton教授提供。

低損傷，高靈敏度成像以及2D，3D和4D材料分析。Themis Z通過單個物鏡配置以**分辨率提供所有功能。