儀器簡介：

ZSX PrimusII是理學公司**奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀，是材料分析與評價的好幫手。

ZSX PrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀，分析精度高。

可以對4Be到92U進行定性、定量分析。

元素的檢量范圍從0.0001% ~ 100%，如進行前處理，可以再下降2 ~ 3個數量級。

可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

可以分析材料的領域包括：電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。

技術參數

X射線發生器部分

X射線管：端窗式Rh靶 4kW或3kW

高壓發生器：高頻變頻方式

額定電壓，電流：4kW，60kV-150mA

穩定度：±0.005%(對電源±10%變化時)

冷卻水：水冷冷卻水(內置)

分光部部分

樣品交換器：可以選擇12，24，36，48樣品交換器

樣品尺寸：φ51mmx40mm(H)

分析樣品面：**φ35mm

樣品旋轉：30rpm

1次X射線濾波片：4種(Al，Ti，Cu，Zr)

視野限制光闌：6種自動交換機構(φ35，30，20，10，1，0.5 mm)

發散狹縫：3種自動交換機構(標準分辨率、高分辨率、超輕元素用(選件)

接收狹縫：SC用，F-PC用

測角儀：θ-2θ獨立驅動

測角范圍：SC、5°-118°， F-PC、13°-148°

**掃描速度：1400°/min(2θ)

連續掃描：0.1-240°/min

晶體交換機構：10分光晶體自動交換機構

分光晶體：(標準)LiF(200)、Ge、PET、RX25

(選件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP

真空排氣系統：雙真空室高速排氣系統(雙真空泵)

粉末樣品附件(選件)

氦氣置換機構(選件)：帶隔板

恒溫化機構：36.5度

記數.控制部分：

重元素用：SC閃爍計數管，記數線性1000kcps

輕元素用：F-PC流氣比例計數管，記數線性2000kcps

芯線加熱自動清洗機構

衰減器：IN-OUT自動切換(衰減率1/10)

計算機：windows PC

軟件：

定性分析：自動鑒定分析功能，包括平滑，扣背景

定量分析：檢量線法

JIS法

各種基體校正

無標樣分析法

EZ掃描，應用模板，

樣品徑自動選擇

譜峰分離

定精度測試

E-mail傳送功能，多功能標準樣品

其它選件

維護功能:

自動PHA調整(PAS)

全自動芯線清洗

自動老化

自動診斷

遠程診斷

主要特點：

1、 大幅度提高了超輕元素(B，C)的分析靈敏度、準確度

使用理學**的強度**的分光晶體RX-25，RX-61，RX-75，保證輕元素分析的靈敏度

采用APC自動真空控制機構，保證超輕元素分析的準確度(理學**)

使用4KW 30um超薄窗、超尖銳、長壽命X光管，*適合超輕元素分析

2、 采用新光學系統，實現對重元素的高靈敏度分析

3、 強大的粉末樣品測試功能

上照式，可以長時間防止粉末污染分光室

雙泵、雙真空設計(樣品室/預抽真空室)，防止粉末樣品的細微粉塵混入分光室

粉末附件，采用電磁閥真空密封，防止細微粉塵進入真空泵內

4、 加裝CCD視頻攝像機構，位置分辨率可達100um，可以進行0.5mm的微區分析，可以測量Mapping(理學**)

5、 提高少量樣品的分析準確度

使用r-θ樣品臺(理學**)，徹底解決了X射線照射不均以及分光晶體強度不均的問題，保證樣品在X射線*強、**條件下測量。

6、 樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置

7、 48位自動進樣器

8、 PAS自動調整脈沖高度系統(理學**)

ACC自動清洗F-PC芯線系統(理學**)

可以保證儀器在**狀態下使用

9、 節約能源(自動減少X射線管的輸出)；節約PR-10氣體；節約He氣(選用He室時)；節省空間

10、 自動監控、自動開關機、自動節能等多功能操作軟件

11、 先進的軟件分析，NEW SQX軟件

12、 全中文界面