高分辨率三維計算機斷層掃描& 緊湊型數字化X 光透視系統

特點：

· 高分辨率三維計算機斷層掃描

· 實時高分辨率數字化X光透視

· 納米級分辨率配置可選

· 5-250um分辨率

· 大樣品尺寸（直徑 x 高度 ：320 mm x 420 mm）

· 可編程自動控制重復掃描

· 樣品位置記憶

· 廣泛的應用領域及產品分析

· 鉛及鋼鐵結構，X射線內鎖定系統

學術研究· 材料科學 · 地質，石油&燃氣 · 礦物&地礦 · 自然&生命科學

主要行業

· 汽車 · 電子 · 鑄造 · 航空航天 · 塑料注塑 · 積層制造 · 醫療&齒科 · 珠寶

主要應用

· 度量 · 尺寸控制 · 逆向工程 · 零件檢驗 · 組裝分析 · 失效分析 · 材料內部分析 · 壁厚分析