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雙折射（應力）測量系統-EXICOR OIA

*早的雙折射測量系統是透鏡、平行面、 曲面光學的傾斜角度評估。

Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds lnsrtuments 獲獎光彈調制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統為該行業提供了分析和開發下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。

該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力進行評估。在國際**的平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射。我們的系統是****的！

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